Analiza elementarna materiałów stałych oraz powłok

Badania wykonywane na sprzęcie KEYENCE INTERNATIONAL (BELGIUM) Seria EA-300; Głowica analizatora elementarnego przeznaczona jest do stosowania z mikroskopami serii VHX-7000. Najważniejsze założenia metody badawczej:

analiza przy użyciu techniki LIBS (Laser Induced Breakdown Spectroscopy, laserowo wzbudzana spektroskopia emisyjna)
brak potrzeby przygotowania próbek
możliwa analiza powłok o grubości co najmniej 5 µm
oznaczanie dużej grupy pierwiastków – również C, H, O, N, Li, Be, F
możliwość obrazowania próbek i wybierania fragmentów do analizy
(badania niejednorodności materiałów)
nieprzeznaczona do analiz śladowych

Słowa kluczowe: LIBS, mikropróbkowanie laserowe, spektrometr emisyjny, mapowanie pierwiastkowe

kontakt: uslugi.cezamat@pw.edu.pl